References
- Szyszka A., Ściana B., Radziewicz D., Macherzyński W., Paszkiewicz B., Tłczała M., Opt. Appl., 41 (2011), 281.
- Moczała M., Sosa N., Topol A., Gotszalk T.,Ultramicroscopy, 141 (2014), 1.
- Park K. W., Nair H. P., Crook A. M., Bank S. R., Yu E. T., Appl. Phys. Lett., 99 (2011), 133114.
- Bassani F., Periwal P., Salem B., Chevalier N., Mariolle D., Audoit G., Gentile P., Baron T., Phys. Status Solidi-R, 8 (2014), 312.
- Gogheroa D., Giannazzob F., Raineria V., Mater. Sci. Eng. B-Adv., 102 (2003), 152.
- Bhushan B. (Ed.), Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2, Springer-Verlag, Berlin Heidelberg, 2001.
- Ściana B., Radziewicz D., Pucicki D., Tłaczała M., Seęk G., Poloczek P., Misiewicz J., Kováč J., Srnanek R., Christofi A., Mater. Sci.-Poland, 26 (2008), 71.
- Dawidowski W., Ściana B., Zborowskalinder I., Mikolášek M., Latkowska M., Radziewicz D., Pucicki D., Bielak K., Badura M., Kováč J., Tłaczała M., Int. J. Electron. Telecommun., 60 (2014), 151.
- Szymański T., Wośko M., Paszkiewicz B., Paszkiewicz R., Drzik M., J. Vac. Sci. Technol. A,33 (2015), 041506.
- Smith K.V., Dang X.Z., Yua E.T., Redwing J.M., J. Vac. Sci. Technol. B, 18 (2000), 2304.
- Yin H., Lii T., Wang W., Hu W., Lin L., Lu W., Appl. Phys. Lett., 95 (2009), 093506.
- Szyszka A., Ściana B., Radziewicz D., Macherzyński W., Paszkiewicz B., Tłaczała M., Opt. Appl., 41 (2011), 281.
- Krost A., Dadgar A., Strassburger G., Clos R., Phys. Status Solidi-R, 200 (2003), 26.
- Wośko M., Paszkiewicz B., Szymański T., Paszkiewicz R., J. Cryst. Growth, 414 (2015), 248.