References
- Tanbun-Ek T., Logan R.A., Temkin H., Olsson N.A., Sergent A.M., Wecht K.W., IEEE Photonics Tech. L., 7 (1988), 453.
- Turco F.S., Tamargo M.C., Hweng D.M., Nahory R.E., Werner J., Kash K., Kapon E., Appl. Phys. Lett., 56 (1990), 72.
- Miller B.I., Koren U., Capik R.J., Electron. Lett., 18 (1986), 947.
- Ida M., Yamahata S., Kusishima K., Ito H., Kobayashi T., Matsuoka Y., IEEE T. Electron. Dev., 11 (1996), 1812.
- Huang R.T, Jiang C.L., Appelbaum A., Renner D., Zehr S.W., J. Electron. Mater., 11 (1990), 1313.
- Galeuchet Y.D., Roentgen P., Graf V., Appl. Phys. Lett., 53 (1988), 2638.
- Mawatari H., Fukuda M., Matsumoto S.I., Kishi K., Itaya Y., Microelectron. Reliab., 11 – 12 (1996), 1915.
- Galeuchet Y.D., Roentgen P., Graf V., J. Appl. Phys., 68 (1990), 516.
- Kuech T.F., Tischler M.A., Potemski R., Appl. Phys. Lett., 54 (1989), 910.