References
- [1] John T.T, Mathew M., Sudhakartha C., Vijayakumar K.P., Abe T., Kashiwab Y., Sol. Energy Mater. Sol. Cells., 89 (2005), 27. http://dx.doi.org/10.1016/j.solmat.2004.12.00510.1016/j.solmat.2004.12.005
- [2] Weber M., Scheer R., Lewerenz H.J., Jungblut H., Storkel U., J. Electrochem. Soc., 149(1) (2002), G77. http://dx.doi.org/10.1149/1.142489910.1149/1.1424899
- [3] Watanabe T., Matsui M., Jpn. J. Appl. Phys., 38 (1999), L1379. http://dx.doi.org/10.1143/JJAP.38.L137910.1143/JJAP.38.L1379
- [4] Liu X.P., Shao L.X., Surf. Coat. Technol., 201 (2007), 5340. http://dx.doi.org/10.1016/j.surfcoat.2006.07.18210.1016/j.surfcoat.2006.07.182
- [5] Rudigier E., Garciaj A., Lucki, Klaer J., Scheer R., J. Phys. Chem. Solids., 64 (2003), 1977. http://dx.doi.org/10.1016/S0022-3697(03)00154-910.1016/S0022-3697(03)00154-9
- [6] Bini S. et al., Renewable Energy, 20 (2000), 405. http://dx.doi.org/10.1016/S0960-1481(99)00122-610.1016/S0960-1481(99)00122-6
- [7] Krunks M., Mere A., Katerski A., Mikli V., Krustok J., Thin Solid Films, 511–512 (2006), 434. http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2005.11.07210.1016/j.tsf.2005.11.072
- [8] Krunks M., Bijakina O., Varema T., Mikli V., Mellikov E., Thin Solid Films, 338 (1999), 125. http://dx.doi.org/10.1016/S0040-6090(98)01069-410.1016/S0040-6090(98)01069-4
- [9] Mahendran C., Suriyanarayanan N., Physica B, 405 (2010), 2009. http://dx.doi.org/10.1016/j.physb.2010.01.09010.1016/j.physb.2010.01.090
- [10] Qiu J., Jin Z., Qian J., Shi Y., Wu W., Mater. Lett., 59 (2005), 2735. http://dx.doi.org/10.1016/j.matlet.2005.04.01110.1016/j.matlet.2005.04.011
- [11] He Y.B. et al., Jpn. J. Appl. Phys., 41 No. 4B (2002), L484. http://dx.doi.org/10.1143/JJAP.41.L48410.1143/JJAP.41.L484
- [12] Yamamoto Y., Yamaguchi T., Tanaka T., Tanahashi N., Yoshida A., Sol. Energy Mater. Sol. Cells., 49 (1997), 399. http://dx.doi.org/10.1016/S0927-0248(97)00118-910.1016/S0927-0248(97)00118-9
- [13] Mandale A.B., Sathaye S.D., Patil K.R., Mater. Lett., 55 (2002), 30. http://dx.doi.org/10.1016/S0167-577X(01)00614-010.1016/S0167-577X(01)00614-0
- [14] Park G.C., Yoo Y.T., LEE J., Synthetic Metals., 71 (1995), 1745. http://dx.doi.org/10.1016/0379-6779(94)03033-310.1016/0379-6779(94)03033-3
- [15] Padam G.K., Rao S.U.M., Sol. Energy Mater., 13 (1986), 297. http://dx.doi.org/10.1016/0165-1633(86)90004-310.1016/0165-1633(86)90004-3
- [16] Calvet W., Lewerenz H.J., Pettenkofer C., Thin Solid Films, 431–432 (2003), 317. http://dx.doi.org/10.1016/S0040-6090(03)00160-310.1016/S0040-6090(03)00160-3
- [17] Roh S.J., Mane R.S., Pathan H.M., Joo O.S., Han S.H., Appl. Surf. Sci., 252 (2005), 1981. http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2005.02.14010.1016/j.apsusc.2005.02.140
- [18] Mutlu Kundakcl, Physica B, 406(15–16) (2011), 2953. 10.1016/j.physb.2011.04.027
- [19] Hey B., Kramer T., Osterreicher I., Polity A., Meyer B.K., Semicond Sci. Technol., 20 (2005), 685. http://dx.doi.org/10.1088/0268-1242/20/8/00610.1088/0268-1242/20/8/006
- [20] Shi Y., Jin Z., Li C., An H., Qiu J., Appl. Surf. Sci., 252 (2006), 3737. http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2005.05.05510.1016/j.apsusc.2005.05.055
- [21] Kelly C.V., Jin M.H.C., Banger K.K., Mcnatt J.S., Dickman J.E., Hepp A.F., Mater. Sci. Eng. B, 116 (2005), 403. http://dx.doi.org/10.1016/j.mseb.2004.09.03310.1016/j.mseb.2004.09.033
- [22] Dhanam M., Kavitha B., Velumani S., Mater. Sci. Eng. B, 174 (2010), 209. http://dx.doi.org/10.1016/j.mseb.2010.03.02810.1016/j.mseb.2010.03.028
- [23] Zeaiter K., Llinares Y., Llinares C., Sol. Energy Mater. Sol. Cells., 61 (2000), 313. http://dx.doi.org/10.1016/S0927-0248(99)00125-710.1016/S0927-0248(99)00125-7
- [24] Antony A., Asha A.S., Yoosuf R., Manoj R., Jayaraj M.K., Sol. Energy. Mater. Sol Cells., 81 (2004), 407. http://dx.doi.org/10.1016/j.solmat.2003.11.02510.1016/j.solmat.2003.11.025
- [25] Wijesundera R.P., Siripala W., Sol. Energy Mater. Sol. Cells., 81 (2004), 147. http://dx.doi.org/10.1016/j.solmat.2003.09.00210.1016/j.solmat.2003.09.002
- [26] Muller K., Scheer R., Burkov Y., Schmeier D., Thin Solid Films., 451–452 (2004), 120. http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2003.11.00110.1016/j.tsf.2003.11.001
- [27] Ben Rabeh M., Chaglabou N., Kanzari M., Chalcogenide Lett., 6 (2009), 155.
- [28] Zribi M., Kanzari M., Rezig B., Mater.Lett., 60 (2006), 98. http://dx.doi.org/10.1016/j.matlet.2005.08.00110.1016/j.matlet.2005.08.001
- [29] Aksay S., Altiokka B., Phys. Stat. Sol. (C), 4 (2007), 585. http://dx.doi.org/10.1002/pssc.20067323610.1002/pssc.200673236
- [30] Dhanam M., Balasundaraprabhu R., Jayakumar S., Gopalakrishnan P., Kannan M.D., Phys. Stat. Sol. (A), 191 (2002), 149 http://dx.doi.org/10.1002/1521-396X(200205)191:1<149::AID-PSSA149>3.0.CO;2-F10.1002/1521-396X(200205)191:1<149::AID-PSSA149>3.0.CO;2-F
- [31] Wemple S.H., DI DOMENICO, Phys. Rev. B, 143 (1971), 1338. http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.3.133810.1103/PhysRevB.3.1338
- [32] Wemple S.H., Phys. Rev. B, 7 (1973), 3767. http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.7.376710.1103/PhysRevB.7.3767
- [33] Kotkata M.F., Al-Kotb M.S., Abdel-Wahab F.A., Chalcogenide Lett., 7 (2010), 145.
- [34] Goswami A., Thin Film Fundamentals, New Age Internatinal (P) Limited, Publishers, India, 2005, 412.