Authors
J.-S. Botero-Valencia
Grupo AEyCC, Facultad de Ingenierías, Instituto Tecnológico Metropolitano ITM, Medellín, Colombia
J. Valencia-Aguirre
Grupo AEyCC, Facultad de Ingenierías, Instituto Tecnológico Metropolitano ITM, Medellín, Colombia
D.A. Marquez-Viloria
Grupo AEyCC, Facultad de Ingenierías, Instituto Tecnológico Metropolitano ITM, Medellín, Colombia
J.-F. Vargas-Bonilla
Grupo SISTEMIC, Facultad de Ingenierías, Universidad de Antioquia UdeA, Medellín, Colombia
A. Gallardo-del Angel
Facultad de Instrumentación Electrónica, Universidad Veracruzana, Xalapa, México