Authors
Jiří Přibil
Institute of Measurement Science, SAS, Dúbravská cesta 9,, Bratislava, Slovakia
Anna Přibilová
Institute of Electronics and Photonics, FEE&IT, SUT, Ilkovičova 3,, Bratislava, Slovakia
Ivan Frollo
Institute of Measurement Science, SAS, Dúbravská cesta 9,, Bratislava, Slovakia