References
- Loos J., Adv. Mat., 17 (15) (2005), 1821.
- Malinauskas M., Zukauskas A., Belazaras K., Tikuisis K., Purlys V., Gadonas R., Piskarskas A., Eur. Phys. J.-Appl. Phys., 58 (2012), 20501.
- Salas O., Kearns K., Carrera S., Moore J.J., Surf. Coat. Tech., 172 (2-3) (2003), 117.
- Soltani P., Johari M.S., Zarrebini M., Powder Technol., 254 (2014), 44.
- Falat T., Matkowski P., Platek B., Zandén C., Felba J., Ye L.-L., Liu J., EMPC 2013, 2013 (2013), 1.
- Suresh B., Maruthamuthu S., Khare A., Palanisamy N., Muralidharan V.S., Ragu-nathan R., Kannan M., Pandiyaraj K.N., J. Polym. Res., 18 (6) (2011), 2175.
- Nowicki M., Richter A., Wolf B., Kacz-Marek H., Polymer, 44 (21) (2003), 6599.
- Robertson C., Wertheimer M., Fournier D., Lamarre L., IEEE T. Dielec. El. In., 3 (2) (1996), 283.
- Minoshima K., Oie Y., Komai K., ISIJ Int., 43 (4) (2003), 579.
- Wu J., Zhao M., Nguyen T., Gu X., Mater. Res. Soc. Symp. Proc., 1056 (2008), 227.
- Proff C., Abolhassan S., Dadras M.M., Lemaignan C., J. Nucl. Mater., 404 (2010), 97.
- Sikora A., Meas. Sci. Technol., 25 (2014), 055401.
- Sikora A., Optica Appl., 43 (1) (2013), 163.
- Garcia R., Perez R., Surf. Sci. Rep., 47 (2002), 197.
- Sikora A., Bednarz L., Przeglad Elektrotechniczny, 11a/2010 (2010), 207.
- Sikora A., Bednarz L., Cent. Eur. J. Phys., 9 (2) (2011), 372.
- Butt H.-J., Cappella B., Kappl M., Surf. Sci. Rep., 59 (1-6) (2005), 1.
- Sikora A., Iwan A., High Perform. Polym., 24 (3) (2012), 218.
- Standard ISO/DIS 25178-2 ASME B46.1.
- http://www.imagemet.com, accessed 25.11.2015.
- Vincent O.R.F.O, InSITE 2009, 2009 (2009), 97
- Iwan A., Boharewicz B., Tazbir I., Sikora A., Schab-Balcerzak E., Grucela-Zajac M., Sko-Rka L., Synthetic Met., 189 (2014), 183.
- Iwan A., Boharewicz B., Parafiniuk K., Tazbir I., Gorecki L., Sikora A., Filapek M., Schab-Balcerzak E., Synthetic Met., 195 (2014), 341.
- Chuchmała A., Palewicz M., Sikora A., Iwan A., Synthetic Met., 169 (2013), 33.
- http://www.imagemet.com/WebHelp6/Default.htm#RoughnessParameters/Roughness_Parameters.htm, accessed 25.11.2015.
- Derjaguin B. V., Muller V. M., Toporov Y.U.P., J. Colloid Interf. Sci., 53 (1975), 314.
- Ekwińska M., Rymuza Z., Microelectron. Eng., 87 (2010), 1404.
- http://www.brukerafmprobes.com/p-3249-ddesp-10.aspx, accessed 25.11.2015.
- Ozimek M., Sikora A., Wilczyński W., Przeglqd Elektrotechniczny, 89 (8) (2013), 208.