References
- [1] Benz S. P., Hamilton C. A., Application of the Josephson effect to voltage metrology, ‘Proc. IEEE’, 2004, Vol. 92, pp. 1617–1629.10.1109/JPROC.2004.833671
- [2] Decyzja Nr 209/MON Ministra Obrony Narodowej z dnia 12 czerwca 2015 r. w sprawie działalności metrologicznej w resorcie obrony narodowej, Dz. Urz. MON, Warszawa, 15 czerwca 2015, poz. 161 [Decision number 209 the Minister of National Defense about metrological activity in the Ministry of National Defense — available in Polish].
- [3] Jeanneret B., Benz S. P., Application of Josephson effect in electrical metrology, ‘Eur. Phys. J. Special Topics’, 2009, Vol. 172, pp. 181–206.10.1140/epjst/e2009-01050-6
- [4] Jeckelmann B., Jeanneret B., Quantum Hall Effect as an Electrical Resistance Standard, ‘Séminarie Poincaré, 2004, Vol. 2, pp. 39–51.
- [5] Klitzing K., 25 Years of Quantum Hall Effect (QHE). A Personal View on the Discovery, Phisics and Applications of this Quantum Effect, ‘Séminarie Poincaré’, 2004, Vol. 2, pp. 1–16.10.1007/3-7643-7393-8_1
- [6] Masiukiewicz A., Źródła czasu i częstotliwości. Stan aktualny i kierunki rozwoju, ‘Kwartalnik Naukowy Uczelni Vistula’, 2007, No. 3(53), pp. 130–147 [Sources of time and frequency. Current status and directions of development — available in Polish].
- [7] Standard PN-EN ISO/IEC 17025.
- [8] Wojskowe Centrum Metrologii [Military Center of Metrology], [online], https://wcm.wp.mil.pl/pl/ [access 28.01.2019].