References
- [1] PEKSU E., KARAAGAC H., J. Nanomater., 2015 (2015), 16012.10.1155/2015/516012
- [2] CAGLAR M., GORGUN K., J. Nanoelectron. Optoelectron., 11 (2016), 769.10.1166/jno.2016.1966
- [3] XIONG C., YAO R., Optik, 126 (2015), 1951.10.1016/j.ijleo.2015.05.035
- [4] CAGLAR Y., ARSLAN A., ILICAN S., HUR E., AKSOY S., CAGLAR M., J. Alloy. Compd., 574 (2013), 104.10.1016/j.jallcom.2013.04.013
- [5] RUZGAR S., AKSOY S., J. Mater. Electron. Devices, 1 (2015), 38.
- [6] CAGLAR Y., CAGLAR M., ILICAN S., AKSOY S., YAKUPHANOGLU F., J. Alloy. Compd., 621 (2015), 189.10.1016/j.jallcom.2014.09.190
- [7] YE W., DENG J., WANG X., CUI L., Appl. Surf. Sci., 390 (2016), 831.10.1016/j.apsusc.2016.08.153
- [8] MAZIARZ W., RYDOSZ A., WYSOCKA K., PISARKIEWICZ T., Mater. Sci.-Poland, 32 (2014), 176.10.2478/s13536-013-0186-5
- [9] ATES T., TATAR C., YAKUPHANOGLU F., Sensor. Actuat. A-Phys., 190 (2013) 153.10.1016/j.sna.2012.11.031
- [10] KERLI S., ALVER U., TANRIVERDI A., AVAR B., Crystallogr. Rep., 60 (2015), 946.10.1134/S1063774515060139
- [11] YU C.C., HSU Y.T., LEE S.Y., LAN W.H., KUO H.H., SHIH M.C., FENG D.J.Y., HUANG K.F., Jpn. J. Appl. Phys., 52 (2013), 1.10.1007/s00340-013-5386-5
- [12] GANDLA S., GOLLU S. R., SHARMA R., SARANGI V., GUPTA D., Appl. Phys. Lett., 107 (2015), 152102.10.1063/1.4933304
- [13] CAGLAR M., ILICAN S., CAGLAR Y., YAKUPHANOGLU F., J. Alloy. Compd., 509 (2011), 3177.10.1016/j.jallcom.2010.12.038
- [14] ILICAN S., YAKUPHANOGLU F., CAGLAR M., CAGLAR Y., J. Alloy. Compd., 509 (2011), 5290.10.1016/j.jallcom.2011.01.122
- [15] IZAKI M., KATAYAMA J., J. Electrochem. Soc., 147 (2000), 210.10.1149/1.1393176
- [16] ISHIZAKI H., IMAIZUMI M., MATSUDA S., IZAKI M., ITO T., Thin Solid Films, 411 (2002), 65.10.1016/S0040-6090(02)00189-X
- [17] CALNAN S., RIEDEL W., GLEDHILL S., STANNOWSKI B., STEINER L.M.C., SCHLATMANN R., Thin Solid Films, 594 (2015), 215.10.1016/j.tsf.2015.05.051
- [18] TSIN F., THOMERE A., BRIS A.L., COLLIN S., LINCOT D., ROUSSET J., ACS Appl. Mater. Inter., 8 (2016), 12298.10.1021/acsami.6b0299827111517
- [19] BARRET C.S., MASSALSKI T.B., Structure of Metals, Pergamon Press, Oxford, 1980.
- [20] PAWAR B.N., JADKAR S.R., TAKWALE M.G., J. Phys. Chem. Solids, 66 (2005), 1779.10.1016/j.jpcs.2005.08.086
- [21] CULLITY B.D., STOCK S.R., Elements of X-ray Diffraction, 2nd Ed., Prentice-Hall, Inc., New Jersey, 2001.
- [22] MAO C., FANG L., ZHANG H., LI W., WU F., QIN G., RUAN H., KONG C., J. Alloy. Compd., 676 (2016), 135.10.1016/j.jallcom.2016.03.157
- [23] SENOL S.D., OZTURK O., TERZIOGLU C., Ceram. Int., 41 (2015), 11194.10.1016/j.ceramint.2015.05.069
- [24] TSAY C.-Y., HSU W.-T., Ceram. Int., 39 (2013), 7425.10.1016/j.ceramint.2013.02.086
- [25] GAUDON M., TOULEMONDE O., DEMOURGUES A., Inorg. Chem., 46 (2007), 10996.10.1021/ic701157j18004842
- [26] MURPHY A.B., Sol. Energ. Mat. Sol. C., 91 (2007), 1326.